Mobil és telepített fémelemző spektrométerek

GD-OES spektrométerek réteg vastagság mérésre

2018. február 02. 16:19 - Nanotest

A GDOES (Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy) módszer egy spektroszkópiai módszer fémes és nem fémes anyagok minőségi és mennyiségi elemanalitikai vizsgálatára. A módszerrel lehetőség nyílik az anyagok tömbi és felületi elemösszetételének mérésére így a réteg vagy rétegek vastagságának meghatározására is. Tehát nem csak elemanaliitaki de rétegvastagság meghatározásra is alkalmas.

spectruma_gdoes_spektrometerek.png
A mérés során a vizsgálandó bevonattal ellátott minta, egy Grimm kisülési forrásra (Glow Discharge Source) van helyezve és katódként funkcionál. A Grimm kisülési forrás (Glow discharge lamp) tulajdonképpen egy megfelelő geometriai elrendezésű, kisnyomású Argonnal töltött gázkisülési cső. Az anód és a Katód (=minta) között alkalmazott feszültség hatására az argon atomok ionizálódnak és egy plazma jön létre. A működés során a nagyenergiájú pozitív töltésű Argon ionok először a bevonófémet majd az alatta lévő fém atomjait „porlasztják”, a plazmába jutott atomok gerjesztődnek, és az adott elemre jellemző karakterisztikus sugárzást (látható és UV) bocsátanak ki. A lámpához illesztett spektrométer segítségével a plazmába került fémek időbeli koncentrációja meghatározható és így információ nyerhető a bevonatok összetételéről a vastagság függvényében.
A GDOES technikával lehetséges nem csak a tömbi elemösszetétel, de a felületi rétegek összetételének mélység szerinti meghatározása, így a felületi rétegek vastagságának pontos mérése is. Gyakorlatilag a teljes preiódusos rendszer érzékenyen mérhető ezzel a módszerrel.
A mérési idő általában néhány perc. Íves felületű vagy kis méretű  minták mérése is lehetséges az univerzális mintatartó használatával.
Nincs szükség munka és idő igényes minta előkészítésre, a mérés általában a gyártásból hozott mintákon elvégezhető. Különböző méretű anód megválasztásával a Spectruma Analytic teljes flexibilitást nyújt a mérhető minták tekintetében.
A fentiek miatt a Spectruma GDOES spektrométerei tökéletes megoldást jelentenek hőkezelt anyagok felületi rétegének vizsgálatához.

www.nanotest.hu

komment

A bejegyzés trackback címe:

https://spektrometer.blog.hu/api/trackback/id/tr3913627752
süti beállítások módosítása